一种计算封闭腔体磁场屏蔽效能的预测方法

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成果名称: 一种计算封闭腔体磁场屏蔽效能的预测方法 关键字: 应用行业:
高新技术领域: 所在地: 知识产权类型: 发明专利
知识产权编号: ZL201910768469 成果体现形式: 成果属性:
成果所处阶段: 成果水平: 国内领先 研究形式:
学科分类: 战略新兴产业: 课题来源:
第一完成单位名称: 全球能源互联网研究院有限公司; 华北电力大学 第一完成单位属性: 技术成熟度:
合作方式: 技术转让 交易价格(万): 10.00 所属十强产业:
本发明公开了一种计算封闭腔体磁场屏蔽效能的预测方法,其特征在于,所述封闭腔体磁场屏蔽效能的预测方法包括以下步骤:步骤一:计算屏蔽体在某一低频点f0的磁场屏蔽效能SH(f0)=屏蔽前磁场/屏蔽后磁场;步骤二:计算形状因子其中,c为屏蔽体形状因子,Δ为屏蔽体金属材料的厚度,μ为磁导率,ω=2πf0;步骤三:根据步骤二的形状因子反推出整个频段的屏蔽效能表达式为:SH=|cosh(γΔ)+cγsinh(γΔ)|;步骤四:根据关系式SE=20log10(SH)计算对数形式下的屏蔽效能,绘制屏蔽效能曲线。
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